1. 兩箱式試驗(yàn)

• 流程：將試驗(yàn)樣品放置在一個(gè)吊籃中，通過傳動(dòng)裝置在高溫箱和低溫箱之間快速移動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)溫度沖擊。

• 特點(diǎn)：轉(zhuǎn)換時(shí)間短，結(jié)構(gòu)相對簡單，但由于樣品在移動(dòng)過程中會(huì)受到一定的機(jī)械沖擊，可能對某些敏感樣品產(chǎn)生影響。

2. 三箱式試驗(yàn)

• 流程：試驗(yàn)箱分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū)。測試區(qū)與高溫區(qū)和低溫區(qū)通過風(fēng)門隔開。進(jìn)行溫度沖擊時(shí)，通過打開和關(guān)閉風(fēng)門，使測試區(qū)的溫度快速變化。

• 特點(diǎn)：樣品在測試區(qū)內(nèi)靜止，避免了機(jī)械沖擊的影響，溫度轉(zhuǎn)換相對平穩(wěn)，但設(shè)備結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，成本較高。

1. 國際標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 16750-4：道路車輛電氣和電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第 4 部分：氣候負(fù)荷。

• IEC 60068-2-14：環(huán)境試驗(yàn) 第 2-14 部分：試驗(yàn) 試驗(yàn) N：溫度變化。

2. 國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 2423.22：環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N：溫度變化。

• GB/T 5170.2：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備。

1. 溫度范圍：應(yīng)能夠達(dá)到規(guī)定的高溫和低溫極限值。

2. 溫度變化速率：滿足特定的升溫降溫速度要求。

3. 溫度均勻性：在試驗(yàn)箱工作空間內(nèi)，各點(diǎn)的溫度差異應(yīng)在允許范圍內(nèi)。

4. 恢復(fù)時(shí)間：從溫度沖擊結(jié)束到樣品溫度恢復(fù)穩(wěn)定的時(shí)間應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)。

總之，了解常見的冷熱溫度沖擊試驗(yàn)方法以及相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，對于正確使用試驗(yàn)箱、保證試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性具有重要意義。在實(shí)際應(yīng)用中，應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品特點(diǎn)和試驗(yàn)要求，選擇合適的試驗(yàn)方法和符合標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)箱。