新國(guó)標(biāo)快速溫變?cè)囼?yàn)箱應(yīng)力篩選試驗(yàn)現(xiàn)貨

1低溫制冷采用德國(guó)"谷輪"半封閉式壓縮機(jī)機(jī)組(7.5匹× 2)。其它制冷部件如美國(guó)RANCO、SPORLAN、瑞士"ALFALAVAL"、丹麥DANFOSS、意大利CASTEL、日本鷺宮等產(chǎn)品。高溫級(jí)使用R404A，低溫級(jí)使用R23環(huán)保型制冷劑。兩級(jí)之間采用 瑞典"阿法拉伐"板式交換器連接，蒸發(fā)冷凝器既作為高溫級(jí)的蒸發(fā)器，又作為低溫級(jí)的冷凝器。

2 為確保系統(tǒng)安全運(yùn)行，在系統(tǒng)中需設(shè)置高低壓控制、超壓、過(guò)載等保護(hù)系統(tǒng)。同時(shí)為了監(jiān)測(cè)系統(tǒng)運(yùn)行情況，在高低壓端均需設(shè)有高低壓表監(jiān)測(cè)系 統(tǒng)運(yùn)行情況。

3 制冷量調(diào)節(jié)采用分流法。

4 其它制冷部件均采用美國(guó)RANCO、SPORLAN、瑞士"ALFALAVAL"、丹麥DANFOSS、意大利CASTEL、日本鷺宮等進(jìn)口產(chǎn)品。

制冷系統(tǒng)

1.系統(tǒng)理念：此類(lèi)實(shí)驗(yàn)室均采用溫度平衡技術(shù)（制冷不加熱），通過(guò)能量調(diào)節(jié)技術(shù)在降溫及低溫平衡時(shí)不需要另外啟動(dòng)加熱來(lái)平衡控溫。能量調(diào)節(jié)技術(shù)即PID控制調(diào)節(jié)制冷劑流量，通過(guò)調(diào)節(jié)控制單位時(shí)間內(nèi)進(jìn)入蒸發(fā)器制冷劑的質(zhì)量，來(lái)達(dá)到控制制冷功率，從而控制試驗(yàn)室的溫度。

2.相對(duì)以前“平衡控溫方式"即邊加熱邊制冷的方法，能耗非常大。而運(yùn)用此技術(shù)可在zui大限度上降低客戶(hù)的運(yùn)營(yíng)成本和延長(zhǎng)壓縮機(jī)的壽命，可在產(chǎn)品壽命周期內(nèi)可為用戶(hù)節(jié)約一筆不小的電費(fèi)開(kāi)支（因客戶(hù)實(shí)際使用而已）

3.制冷硬件:采用“泰康"全封閉壓縮機(jī)組成制冷循環(huán)系統(tǒng)。

4.制冷劑：采用環(huán)保制冷劑R404a，R23。

結(jié)構(gòu)特質(zhì)

1、試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)先進(jìn)合理，配套產(chǎn)品和功能元器件具有水平，能夠適應(yīng)長(zhǎng)期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。能夠滿(mǎn)足用戶(hù)為從事上述用途的加工生產(chǎn)要求，且使用、操作、維修方便，使用壽命長(zhǎng)，造型美觀，有良好的用戶(hù)界面，使用戶(hù)的操作和監(jiān)測(cè)都更加簡(jiǎn)單和直觀。

2、設(shè)備主要部件選用優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，確保整機(jī)的質(zhì)量和性能。

3、設(shè)備性能完善、人機(jī)對(duì)話(huà)功能簡(jiǎn)便易操作。

4、擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)和外觀設(shè)計(jì)專(zhuān)·利以及掌握環(huán)境試驗(yàn)箱核心技術(shù)。

設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)

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